徠卡偏光顯微鏡 DM750P 配備的物鏡通常為 2.5X-100X。其測量西藥結晶晶體顆粒大小的范圍理論上可以從幾微米到數百微米甚至更大，具體取決于所使用的物鏡倍數和目鏡測微尺的精度。

低倍物鏡（如 2.5X、10X）：適合觀察較大的晶體顆?；蚓w群體，可測量幾十微米到數百微米大小的晶體。此時能夠觀察到晶體的整體形態(tài)和分布情況，但對于較小晶體顆粒的細節(jié)分辨能力相對較弱。

高倍物鏡（如 40X、100X）：可以清晰地觀察到晶體的細微結構和特征，能夠測量幾微米到幾十微米的晶體顆粒。在這種放大倍數下，能夠更準確地測量晶體的尺寸，但觀察視野相對較小，需要花費更多時間尋找和定位合適的晶體顆粒進行測量。

目鏡測微尺在不同的物鏡倍數下，其每一小格所代表的實際長度不同。通過事先校準目鏡測微尺與實際長度的對應關系，就可以根據晶體在測微尺上所占的格數來計算其大小。徠卡偏

光顯微鏡 DM750P 配合高精度的目鏡測微尺和合適的物鏡，能夠滿足大多數西藥結晶晶體顆粒大小的測量需求。